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IEC 62391-1 Ed. 3.0 b:2022 Fixed electric double-layer capacitors for use in electric and electronic equipment - Part 1: Generic specification >
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IEC 62391-1 Ed. 3.0 b:2022 Fixed electric double-layer capacitors for use in electric and electronic equipment - Part 1: Generic specification, 2022
- English [Go to Page]
- CONTENTS
- FOREWORD
- 1 Scope
- 2 Normative references
- 3 Terms and definitions
- 4 General requirements [Go to Page]
- 4.1 Unit and symbols
- 4.2 Preferred values and class [Go to Page]
- 4.2.1 General
- 4.2.2 Preferred values of nominal capacitance
- 4.2.3 Class
- 4.3 Marking [Go to Page]
- 4.3.1 General
- 4.3.2 Coding
- 5 General provisions for tests and measurement procedures [Go to Page]
- 5.1 General
- 5.2 Test and measurement requirements [Go to Page]
- 5.2.1 Test conditions
- 5.2.2 Measurement conditions
- 5.2.3 Voltage treatment
- 5.2.4 Thermal treatment
- 5.3 Drying
- 5.4 Storage [Go to Page]
- 5.4.1 Storage at high temperature
- 5.4.2 Storage at low temperature
- 6 Electrical tests and measurements [Go to Page]
- 6.1 Measurement method 1 for capacitance and internal resistance (constant current discharge) [Go to Page]
- 6.1.1 Basic circuit for measuring
- 6.1.2 Measuring equipment
- 6.1.3 Measurement procedure
- 6.1.4 Calculation methods for capacitance
- 6.1.5 Calculation methods for internal resistance
- 6.1.6 Conditions to be prescribed in the detail specification
- 6.2 Measurement method 2 for capacitance and internal resistance [Go to Page]
- 6.2.1 Constant resistance charging method for capacitance measurement
- 6.2.2 AC internal resistance measurement method
- 6.3 Leakage current [Go to Page]
- 6.3.1 Measurement method
- 6.3.2 Items to be specified in the detail specification
- 6.4 Maintain voltage [Go to Page]
- 6.4.1 Measurement method
- 6.4.2 Calculation of voltage maintenance rate
- 6.4.3 Conditions to be stated in the detail specification
- 7 Mechanical tests and measurements [Go to Page]
- 7.1 Visual examination and check of dimensions [Go to Page]
- 7.1.1 Visual examination
- 7.1.2 Dimensions (gauging)
- 7.1.3 Dimensions (detail)
- 7.2 Robustness of terminations [Go to Page]
- 7.2.1 Test Ua1 – Tensile
- 7.2.2 Test Ub – Bending (half of the sample)
- 7.2.3 Test Uc – Torsion (remaining sample)
- 7.2.4 Test Ud – Torque (for terminations with threaded studs or screws and for integral mounting devices)
- 7.2.5 Visual examination
- 7.3 Vibration [Go to Page]
- 7.3.1 Initial measurement
- 7.3.2 Test
- 7.3.3 Final measurement and requirements
- 8 Environmental and climatic tests [Go to Page]
- 8.1 Rapid change of temperature [Go to Page]
- 8.1.1 Initial measurement
- 8.1.2 Test
- 8.1.3 Final inspection, measurements and requirements
- 8.2 Damp heat, steady state [Go to Page]
- 8.2.1 Initial measurement
- 8.2.2 Test
- 8.2.3 Final measurement
- 8.3 Endurance [Go to Page]
- 8.3.1 Initial measurements
- 8.3.2 Test
- 8.3.3 Final measurement, inspection and requirements
- 8.4 Characteristics at high and low temperature [Go to Page]
- 8.4.1 General
- 8.4.2 Test procedure
- 8.4.3 Dry heat
- 8.4.4 Cold
- 8.4.5 Final measurement and requirements
- 9 Tests related to component assembly [Go to Page]
- 9.1 Resistance to soldering heat [Go to Page]
- 9.1.1 Preconditioning and initial measurement
- 9.1.2 Test
- 9.1.3 Recovery
- 9.1.4 Final inspection, measurements and requirements
- 9.2 Solderability [Go to Page]
- 9.2.1 General
- 9.2.2 Preconditioning
- 9.2.3 Capacitors with leads
- 9.2.4 Surface mount capacitors
- 9.3 Component solvent resistance [Go to Page]
- 9.3.1 Initial measurements
- 9.3.2 Test
- 9.3.3 Requirements
- 9.4 Solvent resistance of marking [Go to Page]
- 9.4.1 Test
- 9.4.2 Requirements
- 10 Tests related to safety [Go to Page]
- 10.1 Passive flammability [Go to Page]
- 10.1.1 Test procedure
- 10.1.2 Requirements
- 10.2 Pressure relief (if applicable) [Go to Page]
- 10.2.1 Test
- 10.2.2 Requirements
- 11 Quality assessment procedures
- Annex A (normative)Classification according to capacitance and internal resistance [Go to Page]
- A.1 General
- A.2 Classification by capacitance and internal resistance
- Annex B (informative)Measurement method of capacitance and low resistanceby low frequency AC method (reference) [Go to Page]
- B.1 General
- B.2 Measurement system
- B.3 Calculation of capacitance
- B.4 Measurement conditions
- Annex C (informative)Thermal equilibrium time of capacitors [Go to Page]
- C.1 General
- C.2 Thermal equilibrium time of capacitors
- Annex D (informative)Charging/discharging efficiency and measurement current [Go to Page]
- D.1 General
- D.2 Charging efficiency, discharging efficiency, and current [Go to Page]
- D.2.1 Calculation assuming full charge and discharge
- D.2.2 Calculation assuming incomplete charging and discharging due to internal resistance
- Annex E (informative)Procedures for setting the measurement current of capacitorwith uncertain nominal internal resistance [Go to Page]
- E.1 General
- E.2 Current setting procedures for measurement of capacitor
- E.3 Example of a current setting procedure and parameters
- Annex F (informative)Policy on uncertainty of measurement and inset limits [Go to Page]
- F.1 Objective
- F.2 Calculation of measurement uncertainty
- F.3 Policy
- F.4 Calculation of inset and outset limits
- F.5 Examples [Go to Page]
- F.5.1 General
- F.5.2 Example 1: Resistor measurement
- F.5.3 Example 2: Resistor measurement
- F.5.4 Example 3: Transistor measurement (gain)
- F.5.5 Example 4: Comparison between initial and final measurement results
- Annex Q (normative)Quality assessment procedures [Go to Page]
- Q.1 General [Go to Page]
- Q.1.1 Overview
- Q.1.2 Applicability of qualification approval
- Q.1.3 Applicability of capability approval
- Q.1.4 Applicability of technology approval
- Q.2 Primary stage of manufacture
- Q.3 Subcontracting
- Q.4 Structurally similar components
- Q.5 Qualification approval procedures [Go to Page]
- Q.5.1 Eligibility for qualification approval
- Q.5.2 Application for qualification approval
- Q.5.3 Test procedure for qualification approval
- Q.5.4 Granting of qualification approval
- Q.5.5 Maintenance of qualification approval
- Q.5.6 Quality conformance inspection
- Q.6 Capability approval procedures [Go to Page]
- Q.6.1 General
- Q.6.2 Eligibility for capability approval
- Q.6.3 Application for capability approval
- Q.6.4 Description of capability
- Q.6.5 Demonstration and verification of capability
- Q.6.6 Programme for capability approval
- Q.6.7 Capability approval test report
- Q.6.8 Abstract of description of capability
- Q.6.9 Modifications likely to affect the capability approval
- Q.6.10 Initial capability approval
- Q.6.11 Granting of capability approval
- Q.6.12 Maintenance of capability approval
- Q.6.13 Extension of capability approval
- Q.6.14 Quality conformance inspection
- Q.7 Rework and repair [Go to Page]
- Q.7.1 Rework
- Q.7.2 Repair
- Q.8 Release for delivery [Go to Page]
- Q.8.1 General
- Q.8.2 Release for delivery under qualification approval before the completion of group B tests
- Q.9 Certified test records of released lots
- Q.10 Delayed delivery
- Q.11 Alternative test methods
- Q.12 Manufacture outside the geographical limits of IECQ CBs
- Q.13 Unchecked parameters
- Q.14 Technology approval procedures [Go to Page]
- Q.14.1 General
- Q.14.2 Eligibility for technology approval
- Q.14.3 Application of technology approval
- Q.14.4 Description of technology
- Q.14.5 Demonstration and verification of the technology
- Q.14.6 Granting of technology approval
- Q.14.7 Maintenance of technology approval
- Q.14.8 Quality conformance inspection
- Q.14.9 Failure rate level determination
- Q.14.10 Outgoing quality level
- Annex X (informative)Cross-references to IEC 62391-1:2015
- Bibliography
- Figures [Go to Page]
- Figure 1 − Basic circuit for measuring
- Figure 2 – Voltage–time characteristics between capacitor terminalsin capacitance and internal resistance measurement
- Figure 3 − Circuit for constant resistance charging method
- Figure 4 − Circuit for AC resistance method
- Figure 5 – Circuit for measuring leakage currents
- Figure 6 − Diagram of current and voltage changes at the timeof measuring the leakage current
- Figure 7 − Maintain voltage test diagram
- Figure A.1 – Conceptual rendering orientated by characteristics in each classification
- Figure B.1 – Capacitance measurement system by the low frequency AC method
- Figure C.1 – Thermal equilibrium times of capacitors (from 85 °C to 25 °C)
- Figure C.2 – Thermal equilibrium times of capacitors (from −40 °C to 25 °C)
- Figure C.3 – Capacitor core temperature change with respect to time
- Figure Q.1 – General scheme for capability approval
- Tables [Go to Page]
- Table 1 – Measurement conditions for measurement method 1A
- Table 2 – Measurement conditions for measurement method 1B
- Table 3 – Tensile force
- Table 4 – Torque
- Table 5 – Severities and requirements
- Table A.1 – Electrical performance and measurement method by class
- Table E.1 – Example of setting current for measurement of capacitor
- Table X.1 – Cross-references to the previous edition
- Français [Go to Page]
- SOMMAIRE
- AVANT-PROPOS
- 1 Domaine d’application
- 2 Références normatives
- 3 Termes et définitions
- 4 Exigences générales [Go to Page]
- 4.1 Unités et symboles
- 4.2 Classe et valeurs préférentielles [Go to Page]
- 4.2.1 Généralités
- 4.2.2 Valeurs préférentielles de la capacité nominale
- 4.2.3 Classe
- 4.3 Marquage [Go to Page]
- 4.3.1 Généralités
- 4.3.2 Codage
- 5 Dispositions générales relatives aux essais et procédures de mesure [Go to Page]
- 5.1 Généralités
- 5.2 Exigences relatives aux essais et mesures [Go to Page]
- 5.2.1 Conditions d’essai
- 5.2.2 Conditions de mesure
- 5.2.3 Traitement de la tension
- 5.2.4 Traitement thermique
- 5.3 Séchage
- 5.4 Stockage [Go to Page]
- 5.4.1 Stockage à haute température
- 5.4.2 Stockage à basse température
- 6 Essais et mesures électriques [Go to Page]
- 6.1 Méthode de mesure 1 pour la capacité et la résistance interne (décharge à courant constant) [Go to Page]
- 6.1.1 Circuit de base pour la mesure
- 6.1.2 Appareil de mesure
- 6.1.3 Procédure de mesure
- 6.1.4 Méthodes de calcul de la capacité
- 6.1.5 Méthodes de calcul de la résistance interne
- 6.1.6 Conditions à prescrire dans la spécification particulière
- 6.2 Méthode de mesure 2 pour la capacité et la résistance interne [Go to Page]
- 6.2.1 Méthode de charge à résistance constante pour la mesure de la capacité
- 6.2.2 Méthode de mesure de la résistance à courant alternatif interne
- 6.3 Courant de fuite [Go to Page]
- 6.3.1 Méthode de mesure
- 6.3.2 Eléments à indiquer dans la spécification particulière
- 6.4 Tension de maintien [Go to Page]
- 6.4.1 Méthode de mesure
- 6.4.2 Calcul du taux de maintien de tension
- 6.4.3 Conditions à indiquer dans la spécification particulière
- 7 Essais et mesures mécaniques [Go to Page]
- 7.1 Examen visuel et contrôle des dimensions [Go to Page]
- 7.1.1 Examen visuel
- 7.1.2 Dimensions (calibrage)
- 7.1.3 Dimensions (détail)
- 7.2 Robustesse des sorties [Go to Page]
- 7.2.1 Essai Ua1 – Traction
- 7.2.2 Essai Ub – Pliage (sur la moitié des échantillons)
- 7.2.3 Essai Uc – Torsion (sur l’autre moitié des échantillons)
- 7.2.4 Essai Ud – Couple (pour les bornes à vis ou à goujons filetés, et les dispositifs de montage incorporés)
- 7.2.5 Examen visuel
- 7.3 Vibrations [Go to Page]
- 7.3.1 Mesure initiale
- 7.3.2 Essai
- 7.3.3 Mesure finale et exigences
- 8 Essais d’environnement et climatiques [Go to Page]
- 8.1 Variation rapide de température [Go to Page]
- 8.1.1 Mesure initiale
- 8.1.2 Essai
- 8.1.3 Mesures et inspection finales, et exigences
- 8.2 Chaleur humide, essai continu [Go to Page]
- 8.2.1 Mesure initiale
- 8.2.2 Essai
- 8.2.3 Mesure finale
- 8.3 Endurance [Go to Page]
- 8.3.1 Mesures initiales
- 8.3.2 Essai
- 8.3.3 Mesure et inspection finales, et exigences
- 8.4 Caractéristiques à haute et basse températures [Go to Page]
- 8.4.1 Généralités
- 8.4.2 Procédure d’essai
- 8.4.3 Chaleur sèche
- 8.4.4 Froid
- 8.4.5 Mesure finale et exigences
- 9 Essais relatifs à l’assemblage des composants [Go to Page]
- 9.1 Résistance à la chaleur de brasage [Go to Page]
- 9.1.1 Préconditionnement et mesure initiale
- 9.1.2 Essai
- 9.1.3 Rétablissement
- 9.1.4 Mesures et inspection finales, et exigences
- 9.2 Brasabilité [Go to Page]
- 9.2.1 Généralités
- 9.2.2 Préconditionnement
- 9.2.3 Condensateurs à sorties
- 9.2.4 Condensateurs pour montage en surface
- 9.3 Résistance au solvant des composants [Go to Page]
- 9.3.1 Mesures initiales
- 9.3.2 Essai
- 9.3.3 Exigences
- 9.4 Résistance au solvant du marquage [Go to Page]
- 9.4.1 Essai
- 9.4.2 Exigences
- 10 Essais relatifs à la sécurité [Go to Page]
- 10.1 Inflammabilité passive [Go to Page]
- 10.1.1 Procédure d’essai
- 10.1.2 Exigences
- 10.2 Décharge de pression (le cas échéant) [Go to Page]
- 10.2.1 Essai
- 10.2.2 Exigences
- 11 Procédures d’assurance de la qualité
- Annex A (normative)Classification en fonction des capacités et des résistances internes [Go to Page]
- A.1 Généralités
- A.2 Classification en fonction de la capacité et de la résistance interne
- Annex B (informative)Méthode de mesure de capacité et de faible résistance par la méthodeen courant alternatif faible fréquence (référence) [Go to Page]
- B.1 Généralités
- B.2 Système de mesure
- B.3 Calcul de la capacité
- B.4 Conditions de mesure
- Annex C (informative)Temps nécessaire aux condensateurs pour atteindre l’équilibre thermique [Go to Page]
- C.1 Généralités
- C.2 Temps nécessaire aux condensateurs pour atteindre l’équilibre thermique
- Annex D (informative)Efficacité de charge/décharge et courant de mesure [Go to Page]
- D.1 Généralités
- D.2 Efficacité de charge, efficacité de décharge et courant [Go to Page]
- D.2.1 Calcul prenant pour hypothèse la pleine charge et la pleine décharge
- D.2.2 Calcul prenant pour hypothèse une charge et une décharge incomplètes, dues à la résistance interne
- Annex E (informative)Procédures de réglage du courant de mesure d’un condensateuravec une résistance nominale interne incertaine [Go to Page]
- E.1 Généralités
- E.2 Procédures de réglage du courant pour la mesure d’un condensateur
- E.3 Exemple de procédure et de paramètres de réglage de courant
- Annex F (informative)Politique sur l’incertitude de mesure et les limites strictes [Go to Page]
- F.1 Objectif
- F.2 Calcul de l’incertitude de mesure
- F.3 Politique
- F.4 Calcul des limites strictes et larges
- F.5 Exemples [Go to Page]
- F.5.1 Généralités
- F.5.2 Exemple 1: Mesure de résistance
- F.5.3 Exemple 2: Mesure de résistance
- F.5.4 Exemple 3: Mesure de transistor (gain)
- F.5.5 Exemple 4: Comparaison entre résultats de mesures initiales et finales
- Annex Q (normative)Procédures d’assurance de la qualité [Go to Page]
- Q.1 Généralités [Go to Page]
- Q.1.1 Vue d’ensemble
- Q.1.2 Applicabilité de l’homologation
- Q.1.3 Applicabilité de l’agrément de savoir-faire
- Q.1.4 Applicabilité de l’agrément de technologie
- Q.2 Etape initiale de fabrication
- Q.3 Sous-traitance
- Q.4 Modèles associables
- Q.5 Procédures d’homologation [Go to Page]
- Q.5.1 Aptitude à l’homologation
- Q.5.2 Demande d’homologation
- Q.5.3 Procédures d’essai pour l’homologation
- Q.5.4 Octroi de l’homologation
- Q.5.5 Maintien de l’homologation
- Q.5.6 Contrôle de conformité de la qualité
- Q.6 Procédures d’agrément de savoir-faire [Go to Page]
- Q.6.1 Généralités
- Q.6.2 Aptitude à l’agrément de savoir-faire
- Q.6.3 Demande d’agrément de savoir-faire
- Q.6.4 Description du savoir-faire
- Q.6.5 Démonstration et vérification de savoir-faire
- Q.6.6 Programme d’agrément de savoir-faire
- Q.6.7 Rapport d’essai d’agrément de savoir-faire
- Q.6.8 Description résumée du savoir-faire
- Q.6.9 Modifications susceptibles d’affecter l’agrément de savoir-faire
- Q.6.10 Agrément de savoir-faire initial
- Q.6.11 Octroi de l’agrément de savoir-faire
- Q.6.12 Maintien de l’agrément de savoir-faire
- Q.6.13 Extension de l’agrément de savoir-faire
- Q.6.14 Contrôle de conformité de la qualité
- Q.7 Retouches et réparations [Go to Page]
- Q.7.1 Retouches
- Q.7.2 Réparations
- Q.8 Acceptation pour livraison [Go to Page]
- Q.8.1 Généralités
- Q.8.2 Acceptation pour livraison par homologation avant la fin des essais du groupe B
- Q.9 Enregistrements d’essais certifiés de lots livrés
- Q.10 Livraison différée
- Q.11 Autres méthodes d’essai
- Q.12 Fabrication hors des limites géographiques des organismes de certification relevant du système IECQ
- Q.13 Paramètres non vérifiés
- Q.14 Procédures d’agrément de technologie [Go to Page]
- Q.14.1 Généralités
- Q.14.2 Aptitude à l’agrément de technologie
- Q.14.3 Demande d’agrément de technologie
- Q.14.4 Description de la technologie
- Q.14.5 Démonstration et vérification de la technologie
- Q.14.6 Octroi de l’agrément de technologie
- Q.14.7 Maintien de l’agrément de technologie
- Q.14.8 Contrôle de conformité de la qualité
- Q.14.9 Détermination du niveau de taux de défaillance
- Q.14.10 Niveau de qualité après contrôle
- Annex X (informative)Références croisées à l’IEC 62391-1:2015
- Bibliographie
- Figures [Go to Page]
- Figure 1 – Circuit de base pour la mesure
- Figure 2 – Caractéristique de la tension en fonction du temps entre les bornes d’un condensateur dans la mesure de la capacité et de la résistance interne
- Figure 3 − Circuit pour la méthode de charge à résistance constante
- Figure 4 − Circuit pour la méthode de la résistance à courant alternatif
- Figure 5 – Circuit pour la mesure des courants de fuite
- Figure 6 − Schéma des variations de courant et de tension lors de la mesure du courant de fuite
- Figure 7 – Schéma d’essai de la tension de maintien
- Figure A.1 – Rendu conceptuel orienté par les caractéristiques de chaque classification
- Figure B.1 – Système de mesure de la capacité par la méthode en courant alternatif faible fréquence
- Figure C.1 – Temps nécessaire aux condensateurs pour atteindre l’équilibre thermique (passage de 85 °C à 25 °C)
- Figure C.2 – Temps nécessaire aux condensateurs pour atteindre l’équilibre thermique (passage de -40 °C à 25 °C)
- Figure C.3 – Variation de la température du cœur du condensateur en fonction du temps
- Figure Q.1 – Mécanisme général d’agrément de savoir-faire
- Tableaux [Go to Page]
- Tableau 1 – Conditions de mesure pour la méthode de mesure 1A
- Tableau 2 – Conditions de mesure pour la méthode de mesure 1B
- Tableau 3 – Force de traction
- Tableau 4 – Couple
- Tableau 5 – Sévérités et exigences
- Tableau A.1 – Performances électriques et méthode de mesure par classe
- Tableau E.1 – Exemple de réglage de courant pour la mesure d’un condensateur
- Tableau X.1 – Références croisées à l’édition précédente [Go to Page]
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