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IEC 61280-4-1 Ed. 3.0 b:2019 Fibre-optic communication subsystem test procedures - Part 4-1: Installed cabling plant - Multimode attenuation measurement, 2019

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IEC 61280-4-1 Ed. 3.0 b:2019 Fibre-optic communication subsystem test procedures - Part 4-1: Installed cabling plant - Multimode attenuation measurement, 2019

English [Go to Page]
CONTENTS
FOREWORD
1 Scope
2 Normative references
3 Terms, definitions, graphical symbols and abbreviated terms [Go to Page]
3.1 Terms and definitions
3.2 Graphical symbols
3.3 Abbreviated terms
4 Test methods [Go to Page]
4.1 General
4.2 Cabling configurations and applicable test methods
5 Overview of uncertainties [Go to Page]
5.1 General
5.2 Sources of significant uncertainties
5.3 Consideration of the PM
5.4 Consideration of test cord connector grade
5.5 Typical uncertainty values
6 Apparatus [Go to Page]
6.1 General
6.2 Light source [Go to Page]
6.2.1 Stability
6.2.2 Spectral characteristics (LSPM measurement)
6.3 Launch cord
6.4 Receive or tail cord
6.5 Substitution cord
6.6 Power meter – LSPM methods only
6.7 OTDR apparatus
6.8 Connector end face cleaning and inspection equipment
6.9 Adapters
7 Procedures [Go to Page]
7.1 General
7.2 Common procedures [Go to Page]
7.2.1 Care of the test cords
7.2.2 Make reference measurements (LSPM methods only)
7.2.3 Inspect and clean the ends of the optical fibres in the cabling
7.2.4 Make the measurements
7.2.5 Make the calculations
7.2.6 Duplex and bi-directional testing
7.3 Calibration
7.4 Safety
8 Calculations
9 Documentation [Go to Page]
9.1 Information for each test
9.2 Information to be available
Annexes [Go to Page]
Annex A (normative) One-cord method [Go to Page]
A.1 Applicability of test method
A.2 Apparatus
A.3 Procedure
A.4 Calculation
A.5 Components of reported attenuation
Annex B (normative) Three-cord method [Go to Page]
B.1 Applicability of test method
B.2 Apparatus
B.3 Procedure
B.4 Calculations
B.5 Components of reported attenuation
Annex C (normative) Two-cord method [Go to Page]
C.1 Applicability of test method
C.2 Apparatus
C.3 Procedure
C.4 Calculations
C.5 Components of reported attenuation
Annex D (normative) Equipment cord method [Go to Page]
D.1 Applicability of the test method
D.2 Apparatus
D.3 Procedure
D.4 Calculation
D.5 Components of reported attenuation
D.6 Typical uncertainty values
Annex E (normative) Optical time domain reflectometer [Go to Page]
E.1 Applicability of the test method
E.2 Apparatus [Go to Page]
E.2.1 General
E.2.2 OTDR
E.2.3 Test cords
E.3 Procedure (test method)
E.4 Calculation [Go to Page]
E.4.1 General
E.4.2 Connection location
E.4.3 Definition of power levels F1 and F2
E.4.4 Alternative calculation
E.5 OTDR uncertainties
Annex F (normative) Requirements for the source characteristics [Go to Page]
F.1 Encircled flux
F.2 Assumptions and limitations
F.3 Encircled flux templates [Go to Page]
F.3.1 General
F.3.2 Uncertainties expectations
F.3.3 Templates
F.4 Graphical representation of templates
Annex G (informative) OTDR configuration information [Go to Page]
G.1 General
G.2 Fundamental parameters that define the operational capability of an OTDR [Go to Page]
G.2.1 Dynamic range
G.2.2 Pulse width
G.2.3 Averaging time
G.2.4 Dead zone
G.3 Other parameters [Go to Page]
G.3.1 Index of refraction
G.3.2 Measurement range
G.3.3 Distance sampling
G.4 Other measurement configurations [Go to Page]
G.4.1 General
G.4.2 Macrobend or splice attenuation measurement
G.4.3 Splice attenuation measurement
G.4.4 Measurement with high reflection connectors or short length cabling
G.4.5 Ghost
G.5 More on the measurement method
G.6 Bi-directional measurement
G.7 Non-recommended practices [Go to Page]
G.7.1 Measurement without tail test cord
G.7.2 Cursor measurement
Annex H (informative) Test cord attenuation verification [Go to Page]
H.1 General
H.2 Apparatus
H.3 Procedure [Go to Page]
H.3.1 General
H.3.2 Test cord verification for the one-cord and two-cord methods when using non-pinned/unpinned and non-plug/socket style connectors
H.3.3 Test cord verification for the one-cord and two-cord methods when using pinned/unpinned or plug/socket style connectors
H.3.4 Test cord verification for the three-cord method when using non-pinned/unpinned and non-plug/socket style connectors
H.3.5 Test cord verification for the three-cord method when using pinned/unpinned or plug/socket style connectors
Annex I (normative) On the use of reference-grade test cords [Go to Page]
I.1 General
I.2 Practical configurations and assumptions [Go to Page]
I.2.1 Component specifications
I.2.2 Conventions
I.2.3 Reference planes
I.3 Impact of using reference grade test cords for recommended LSPM methods
I.4 Examples for LSPM measurements [Go to Page]
I.4.1 Example 1 (configuration A, 1-C method – Annex A)
I.4.2 Example 2 (configuration D, EC method – Annex D)
I.5 Impact of using reference-grade test cords for different configurations using the OTDR test method [Go to Page]
I.5.1 Cabling configurations A, B and C
I.5.2 Cabling configuration D
Annex J (informative) Launch cord output near-field verification [Go to Page]
J.1 Direct verification
J.2 Test equipment manufacturer verification
J.3 Field check with physical artefact [Go to Page]
J.3.1 General
J.3.2 Procedure for attenuation characterization of artefacts
J.3.3 Construction details
J.3.4 Example results
Bibliography
Figures [Go to Page]
Figure 1 – Connector symbols
Figure 2 – Symbol for cabling under test
Figure 3 – Reference plane for configuration A tested with the 1-cord method
Figure 4 – Reference plane for configuration B tested with the 3-cord method
Figure 5 – Reference plane for configuration C tested with the 2-cord method
Figure 6 – Reference plane for configuration D tested with the EC method
Figure 7 – OTDR schematic
Figure A.1 – Reference measurement
Figure A.2 – Test measurement
Figure B.1 – Reference measurement
Figure B.2 – Test measurement
Figure C.1 – Reference measurement
Figure C.2 – Test measurement
Figure C.3 – Test measurement for plug-socket style connectors
Figure D.1 – Reference measurement
Figure D.2 – Test measurement
Figure E.1 – OTDR method
Figure E.2 – Location of the ports of the cabling under test
Figure E.3 – Graphic construction of F1 and F2
Figure E.4 – Graphic construction of F1, F11, F12 and F2
Figure F.1 – Encircled flux example
Figure G.1 – Splice and macrobend attenuation measurement
Figure G.2 – Attenuation measurement with high reflection connectors
Figure G.3 – Attenuation measurement of a short length cabling
Figure G.4 – OTDR trace with ghost
Figure G.5 – Cursor positioning
Figure H.1 – Obtaining reference power level P0
Figure H.2 – Obtaining power level P1
Figure H.3 – Obtaining reference power level P0
Figure H.4 – Obtaining power level P1
Figure H.5 – Obtaining reference power level P0
Figure H.6 – Obtaining power level
Figure H.7 – Obtaining reference power level P0
Figure H.8 – Obtaining power level P1
Figure H.9 – Obtaining power level P5
Figure H.10 – Obtaining reference power level P0
Figure H.11 – Obtaining power level P1
Figure I.1 – Cabling configurations A, B and C tested with the OTDR method
Figure I.2 – Cabling configuration D tested with the OTDR method
Figure J.1 – Initial power measurement
Figure J.2 – Verification of reference-grade connection
Figure J.3 – Two offset splices
Figure J.4 – Five offset splices
Figure J.5 – EF centred
Figure J.6 – EF underfilling
Figure J.7 – EF overfilling
Figure J.8 – L1 attenuation with mandrel
Figure J.9 – L1 attenuation with mandrel and mode conditioner
Figure J.10 – L2 attenuation with mandrel
Figure J.11 – L2 attenuation with mandrel and mode conditioning
Figure J.12 – L3 attenuation with mandrel
Figure J.13 – L3 attenuation with mandrel and mode conditioning
Tables [Go to Page]
Table 1 – Cabling configurations
Table 2 – Test methods and configurations
Table 3 – Measurements bias related to test cord connector grade
Table 4 – Uncertainty for a given attenuation at 850 nm
Table 5 – Spectral requirements
Table D.1 – Uncertainty for a given attenuation at 850 nm
Table F.1 – Attenuation, threshold tolerance and confidence level
Table F.2 – EF requirements for 50 µm core optical fibre cabling at 850 nm
Table F.3 – EF requirements for 50 μm core optical fibre cabling at 1 300 nm
Table F.4 – EF requirements for 62,5 μm core optical fibre cabling at 850 nm
Table F.5 – EF requirements for 62,5 μm core optical fibre cabling at 1 300 nm
Table G.1 – Default effective group index of refraction values
Table I.1 – Measurement bias when using reference-grade test cords
Table I.2 – Measurement bias when using reference grade test cords – OTDR test method
Français [Go to Page]
SOMMAIRE
AVANT-PROPOS
1 Domaine d'application
2 Références normatives
3 Termes, définitions, symboles graphiques et termes abrégés [Go to Page]
3.1 Termes et définitions
3.2 Symboles graphiques
3.3 Termes abrégés
4 Méthodes d’assai [Go to Page]
4.1 Généralités
4.2 Configurations de câblage et méthodes d'essai applicables
5 Vue d'ensemble des incertitudes [Go to Page]
5.1 Généralités
5.2 Sources d'incertitudes significatives
5.3 Facteurs à prendre en compte pour le mesureur de puissance
5.4 Facteurs à prendre en compte pour la classe de connecteur des cordons d'essai
5.5 Valeurs d'incertitude types
6 Appareillage [Go to Page]
6.1 Généralités
6.2 Source lumineuse [Go to Page]
6.2.1 Stabilité
6.2.2 Caractéristiques spectrales (mesurage MPSL)
6.3 Cordon d'amorce
6.4 Cordon de réception ou de fin de fibre
6.5 Cordon de substitution
6.6 Mesureur de puissance – Méthodes MPSL uniquement
6.7 Appareillage de l'OTDR
6.8 Equipement de nettoyage et d'examen de la face d'extrémité des connecteurs
6.9 Adaptateurs
7 Procédures [Go to Page]
7.1 Généralités
7.2 Procédures communes [Go to Page]
7.2.1 Précautions relatives aux cordons d'essai
7.2.2 Réalisation des mesures de référence (méthodes MPSL uniquement)
7.2.3 Examen et nettoyage des extrémités des fibres optiques du câblage
7.2.4 Réalisation des mesures
7.2.5 Réalisation des calculs
7.2.6 Essais duplex et bidirectionnels
7.3 Etalonnage
7.4 Sécurité
8 Calculs
9 Documentation [Go to Page]
9.1 Informations pour chaque essai
9.2 Informations à fournir
Annexes [Go to Page]
Annexe A (normative) Méthode à cordon unique [Go to Page]
A.1 Applicabilité de la méthode d'essai
A.2 Appareillage
A.3 Procédure
A.4 Calcul
A.5 Composantes de l'affaiblissement rapporté
Annexe B (normative) Méthode à trois cordons [Go to Page]
B.1 Applicabilité de la méthode d'essai
B.2 Appareillage
B.3 Procédure
B.4 Calculs
B.5 Composantes de l'affaiblissement rapporté
Annexe C (normative) Méthode à deux cordons [Go to Page]
C.1 Applicabilité de la méthode d'essai
C.2 Appareillage
C.3 Procédure
C.4 Calculs
C.5 Composantes de l'affaiblissement rapporté
Annexe D (normative) Méthode des cordons d'équipement [Go to Page]
D.1 Applicabilité de la méthode d'essai
D.2 Appareillage
D.3 Procédure
D.4 Calcul
D.5 Composantes de l'affaiblissement rapporté
D.6 Valeurs d'incertitude types
Annexe E (normative) Réflectomètre optique dans le domaine temporel [Go to Page]
E.1 Applicabilité de la méthode d'essai
E.2 Appareillage [Go to Page]
E.2.1 Généralités
E.2.2 OTDR
E.2.3 Cordons d'essai
E.3 Procédure (méthode d'essai)
E.4 Calcul [Go to Page]
E.4.1 Généralités
E.4.2 Emplacement des connexions
E.4.3 Définition des niveaux de puissance F1 et F2
E.4.4 Calcul alternatif
E.5 Incertitudes de l'OTDR
Annexe F (normative) Exigences relatives aux caractéristiques de la source [Go to Page]
F.1 Flux inscrit
F.2 Hypothèses et limitations
F.3 Modèles de flux inscrit [Go to Page]
F.3.1 Généralités
F.3.2 Incertitudes attendues
F.3.3 Modèles
F.4 Représentation graphique des modèles
Annexe G (informative) Informations de configuration de l'OTDR [Go to Page]
G.1 Généralités
G.2 Paramètres fondamentaux définissant la capacité opérationnelle d'un OTDR [Go to Page]
G.2.1 Dynamique
G.2.2 Largeur d'impulsion
G.2.3 Temps de moyennage
G.2.4 Zone morte
G.3 Autres paramètres [Go to Page]
G.3.1 Indice de réfraction
G.3.2 Plage de mesure
G.3.3 Echantillonnage en distance
G.4 Autres configurations de mesure [Go to Page]
G.4.1 Généralités
G.4.2 Mesure de l'affaiblissement des macro-courbures ou des épissures
G.4.3 Mesure de l'affaiblissement des épissures
G.4.4 Mesure avec des connecteurs à forte réflexion ou un câblage court
G.4.5 Réflexions fantômes
G.5 Informations complémentaires sur la méthode de mesure
G.6 Mesure bidirectionnelle
G.7 Pratiques non recommandées [Go to Page]
G.7.1 Mesure sans cordon d'essai de fin de fibre
G.7.2 Mesure par curseur
Annexe H (informative) Vérification de l'affaiblissement des cordons [Go to Page]
H.1 Généralités
H.2 Appareillage
H.3 Procédure [Go to Page]
H.3.1 Généralités
H.3.2 Vérification des cordons d'essai pour les méthodes à cordon unique et à deux cordons en utilisant des connecteurs de type non broché/non broché et sans fiche/embase
H.3.3 Vérification des cordons d'essai pour les méthodes à cordon unique et à deux cordons en utilisant des connecteurs de type broché/non broché ou avec fiche/embase
H.3.4 Vérification des cordons d'essai pour la méthode à trois cordons en utilisant des connecteurs de type non brochés/non brochés et sans fiche/embase
H.3.5 Vérification des cordons d'essai pour la méthode à trois cordons en utilisant des connecteurs de type broché/non broché ou fiche/embase
Annexe I (normative) Utilisation des cordons d'essai de classe de référence [Go to Page]
I.1 Généralités
I.2 Configurations pratiques et hypothèses [Go to Page]
I.2.1 Spécifications des composants
I.2.2 Conventions
I.2.3 Plans de référence
I.3 Conséquences de l'utilisation des cordons d'essai de classe de référence pour les méthodes MPSL recommandées
I.4 Exemples de mesures MPSL [Go to Page]
I.4.1 Exemple 1 (configuration A, méthode 1-C – Annexe A)
I.4.2 Exemple 2 (configuration D, méthode EC – Annexe D)
I.5 Impact de l'utilisation des cordons d'essai de classe de référence pour différentes configurations utilisant la méthode d'essai par OTDR [Go to Page]
I.5.1 Configurations de câblage A, B et C
I.5.2 Configuration de câblage D
Annexe J (informative) Vérification du champ proche en sortie du cordon d'amorce [Go to Page]
J.1 Vérification directe
J.2 Vérification auprès du fabricant de l'équipement d'essai
J.3 Contrôle sur site avec artefact physique [Go to Page]
J.3.1 Généralités
J.3.2 Procédure de caractérisation de l'affaiblissement des artefacts
J.3.3 Détails de construction
J.3.4 Exemples de résultats
Bibliographie
Figures [Go to Page]
Figure 1 – Symboles des connecteurs
Figure 2 – Symbole d'un câblage en essai
Figure 3 – Plan de référence pour la configuration d'essai A avec la méthode à cordon unique
Figure 4 – Plan de référence pour la configuration d'essai B avec la méthode à 3 cordons
Figure 5 – Plan de référence pour la configuration d'essai C avec la méthode à 2 cordons
Figure 6 – Plan de référence pour la configuration d'essai D avec la méthode des cordons d'équipement
Figure 7 – Schéma de l'OTDR
Figure A.1 – Mesure de référence
Figure A.2 – Mesure d'essai
Figure B.1 – Mesure de référence
Figure B.2 – Mesure d'essai
Figure C.1 – Mesure de référence
Figure C.2 – Mesure d'essai
Figure C.3 – Mesure d'essai pour les connecteurs de type fiche-embase
Figure D.1 – Mesure de référence
Figure D.2 – Mesure d'essai
Figure E.1 – Méthode par OTDR
Figure E.2 – Emplacement des ports du câblage en essai
Figure E.3 – Construction graphique de F1 et F2
Figure E.4 – Construction graphique de F1, F11, F12 et F2
Figure F.1 – Exemple de flux inscrit
Figure G.1 – Mesure de l'affaiblissement des épissures et des macro-courbures
Figure G.2 – Mesure d'affaiblissement avec des connecteurs à forte réflexion
Figure G.3 – Mesure d'affaiblissement d'un câblage court
Figure G.4 – Trace de l'OTDR avec pic fantôme
Figure G.5 – Positionnement des curseurs
Figure H.1 – Obtention du niveau de puissance de référence P0
Figure H.2 – Obtention du niveau de puissance P1
Figure H.3 – Obtention du niveau de puissance de référence P0
Figure H.4 – Obtention du niveau de puissance P1
Figure H.5 – Obtention du niveau de puissance de référence P0
Figure H.6 – Obtention du niveau de puissance
Figure H.7 – Obtention du niveau de puissance de référence P0
Figure H.8 – Obtention du niveau de puissance P1
Figure H.9 – Obtention du niveau de puissance P5
Figure H.10 – Obtention du niveau de puissance de référence P0
Figure H.11 – Obtention du niveau de puissance P1
Figure I.1 – Configurations de câblage A, B et C soumises à essai en utilisant la méthode par OTDR
Figure I.2 – Configuration de câblage D soumiseà essai en utilisant la méthode par OTDR
Figure J.1 – Mesure de puissance initiale
Figure J.2 – Vérification de la connexion de classe de référence
Figure J.3 – Deux épissures décalées
Figure J.4 – Cinq épissures décalées
Figure J.5 – Flux inscrit centré
Figure J.6 – Sous-remplissage du flux inscrit
Figure J.7 – Flux inscrit saturé
Figure J.8 – Affaiblissement L1 avec mandrin
Figure J.9 – Affaiblissement L1 avec mandrin et conditionneur de mode
Figure J.10 – Affaiblissement L2 avec mandrin
Figure J.11 – Affaiblissement L2 avec mandrin et conditionneur de mode
Figure J.12 – Affaiblissement L3 avec mandrin
Figure J.13 – Affaiblissement L3 avec mandrin et conditionneur de mode
Tableaux [Go to Page]
Tableau 1 – Configurations de câblage
Tableau 2 – Méthodes et configurations d'essai
Tableau 3 – Biais de mesure lié à la classe de connecteur des cordons d'essai
Tableau 4 – Incertitude pour un affaiblissement donné à 850 nm
Tableau 5 – Exigences spectrales
Tableau D.1 – Incertitude pour un affaiblissement donné à 850 nm
Tableau F.1 – Affaiblissement, seuil de tolérance et niveau de confiance
Tableau F.2 – Exigences de flux inscrit pour un câblage à fibres optiques à cœur de 50 µm à 850 nm
Tableau F.3 – Exigences de flux inscrit pour un câblage à fibres optiques à cœur de 50 μm à 1 300 nm
Tableau F.4 – Exigences de flux inscrit pour un câblage à fibres optiques à cœur de 62,5 μm à 850 nm
Tableau F.5 – Exigences de flux inscrit pour un câblage à fibres optiques à cœur de 62,5 μm à 1 300 nm
Tableau G.1 – Indice de groupe efficace par défaut des valeurs de réfraction
Tableau I.1 – Biais de mesure lors de l'utilisationde cordons d'essai de classe de référence
Tableau I.2 – Biais de mesure lors de l'utilisation de cordons d'essaide classe de référence – Méthode d'essai par OTDR [Go to Page]

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