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IEC 60352-3 Ed. 2.0 b:2020 Solderless connections - Part 3: Accessible insulation displacement (ID) connections - General requirements, test methods and practical guidance, 2020
- English [Go to Page]
- CONTENTS
- FOREWORD
- INTRODUCTION
- 1 Scope
- 2 Normative references
- 3 Terms and definitions
- 4 Workmanship
- 5 Prerequisites for basic test schedule [Go to Page]
- 5.1 General
- 5.2 Prerequisites for accessible ID terminations [Go to Page]
- 5.2.1 Accessible ID termination materials
- 5.2.2 Accessible ID termination dimensions
- 5.2.3 Accessible ID termination surface finishes
- 5.2.4 Accessible ID termination design features
- 5.3 Prerequisites for wires and conductors [Go to Page]
- 5.3.1 Wires and conductors
- 5.3.2 Wire insulation
- 5.4 Accessible insulation displacement connections (accessible ID connections)
- 6 Testing [Go to Page]
- 6.1 Introduction
- 6.2 General
- 6.3 Standard conditions for testing
- 6.4 Preconditioning
- 6.5 Recovery
- 6.6 Mounting of specimen
- 7 Tests [Go to Page]
- 7.1 General examination
- 7.2 Mechanical tests [Go to Page]
- 7.2.1 Transverse extraction force
- 7.2.2 Bending of the wire
- 7.2.3 Vibration
- 7.2.4 Repeated connection and disconnection, reusable accessible ID terminations
- 7.3 Electrical tests [Go to Page]
- 7.3.1 General
- 7.3.2 Contact resistance
- 7.3.3 Electrical load and temperature
- 7.4 Climatic tests [Go to Page]
- 7.4.1 General
- 7.4.2 Rapid change of temperature
- 7.4.3 Climatic sequence
- 7.4.4 Flowing mixed gas corrosion test
- 7.4.5 Damp heat, cyclic
- 8 Test schedules [Go to Page]
- 8.1 General [Go to Page]
- 8.1.1 Overview
- 8.1.2 ID connections with terminations suitable for a range of wire diameters
- 8.1.3 Multipole connectors
- 8.2 Basic test schedule [Go to Page]
- 8.2.1 Généralités
- 8.2.2 Initial examination
- 8.2.3 Testing of accessible ID connections
- 8.3 Full test schedule [Go to Page]
- 8.3.1 General
- 8.3.2 Initial examination
- 8.3.3 Testing of accessible ID connections
- 8.4 Flow charts
- Annex A (informative) Practical guidance [Go to Page]
- A.1 General information on accessible ID connections [Go to Page]
- A.1.1 General
- A.1.2 Advantages of accessible ID connections
- A.2 Current-carrying capacity
- A.3 Tool information [Go to Page]
- A.3.1 Wire insertion tool
- A.3.2 Wire extraction tool
- A.3.3 Combination tool
- A.4 Termination information [Go to Page]
- A.4.1 General
- A.4.2 Design features
- A.4.3 Materials
- A.4.4 Surface finishes
- A.5 Wire information [Go to Page]
- A.5.1 Type
- A.5.2 Dimensions
- A.5.3 Surface finishes
- A.5.4 Insulation
- A.6 Connection information
- Annex B (informative) Application examples [Go to Page]
- B.1 Examples for good IDCs or negative results (see Figure B.1 to Figure B.7)
- B.2 Examples for good transversal micro section or negative results
- Bibliography
- Figures [Go to Page]
- Figure 1 – Example of accessible and non-accessible insulation displacement connection
- Figure 2 – Insulation displacement connection
- Figure 3 – Slot
- Figure 4 – Beam
- Figure 5 – Test arrangement, transverse extraction force
- Figure 6 – Test arrangement, bending of the wire
- Figure 7 – Test arrangement, vibration
- Figure 8 – Test arrangement, contact resistance
- Figure 9 – Basic test schedule (see 8.2)
- Figure 10 – Full test schedule (see 8.3)
- Figure A.1 – Example of a single-type accessible ID termination with a solid round conductor
- Figure B.1 – Example of correct and acceptable ID connections
- Figure B.2 – Examples for good IDCs or negative results
- Figure B.3 – Faulty IDC: damaged contacts
- Figure B.4 – Requirements for open-ended IDCs
- Figure B.5 – Faulty IDC: damaged wire
- Figure B.6 – IDC: Wire position
- Figure B.7 – IDC: transversal micro section
- Tables [Go to Page]
- Table 1 – Minimum transverse extraction force
- Table 2 – Vibration, preferred test severities
- Table 3 – Contact resistance of accessible ID connections, maximum permitted values
- Table 4 – Number of specimens required
- Table 5 – Qualification test schedule – Test group 1
- Table 6 – Qualification test schedule – Test group 2
- Table 7 – Qualification test schedule – Test group 3
- Table 8 – Qualification test schedule – Test group A
- Table 9 – Qualification test schedule – Test group B
- Table 10 – Qualification test schedule – Test group C
- Table 11 – Qualification test schedule – Test group D
- Table 12 – Qualification test schedule – Test group E
- Français [Go to Page]
- SOMMAIRE
- AVANT-PROPOS
- INTRODUCTION
- 1 Domaine d’application
- 2 Références normatives
- 3 Termes et définitions
- 4 Exécution
- 5 Conditions préalables pour le programme d’essais de base [Go to Page]
- 5.1 Généralités
- 5.2 Conditions préalables pour les contacts CAD accessibles [Go to Page]
- 5.2.1 Matières des contacts CAD accessibles
- 5.2.2 Dimensions des contacts CAD accessibles
- 5.2.3 Traitements de surface des contacts CAD accessibles
- 5.2.4 Caractéristiques de conception des contacts CAD accessibles
- 5.3 Conditions préalables pour les fils et les conducteurs [Go to Page]
- 5.3.1 Fils et conducteurs
- 5.3.2 Isolant du fil
- 5.4 Connexions autodénudantes accessibles (connexions CAD accessibles)
- 6 Essais [Go to Page]
- 6.1 Introduction
- 6.2 Généralités
- 6.3 Conditions normales d’essai
- 6.4 Préconditionnement
- 6.5 Reprise
- 6.6 Montage de l’éprouvette
- 7 Essais [Go to Page]
- 7.1 Examen général
- 7.2 Essais mécaniques [Go to Page]
- 7.2.1 Force d’extraction transversale
- 7.2.2 Pliage du fil
- 7.2.3 Vibrations
- 7.2.4 Recâblage des connexions, contacts CAD accessibles réutilisables
- 7.3 Essais électriques [Go to Page]
- 7.3.1 Généralités
- 7.3.2 Résistance de contact
- 7.3.3 Charge électrique et température
- 7.4 Essais climatiques [Go to Page]
- 7.4.1 Généralités
- 7.4.2 Variations rapides de température
- 7.4.3 Séquence climatique
- 7.4.4 Essai de corrosion dans un flux de mélange de gaz
- 7.4.5 Chaleur humide, cyclique
- 8 Programme d’essais [Go to Page]
- 8.1 Généralités [Go to Page]
- 8.1.1 Vue d'ensemble
- 8.1.2 Connexions CAD avec contacts appropriés pour une gamme de diamètres de fil
- 8.1.3 Connecteurs multicontacts
- 8.2 Programme d’essais de base [Go to Page]
- 8.2.1 Généralités
- 8.2.2 Examen initial
- 8.2.3 Essai de connexions CAD accessibles
- 8.3 Programme d’essais complet [Go to Page]
- 8.3.1 Généralités
- 8.3.2 Examen initial
- 8.3.3 Essai de connexions CAD accessibles
- 8.4 Tableaux synoptiques
- Annexe A (informative) Guide pratique [Go to Page]
- A.1 Informations générales sur les connexions CAD accessibles [Go to Page]
- A.1.1 Généralités
- A.1.2 Avantages des connexions CAD accessibles
- A.2 Courant limite
- A.3 Informations sur les outils [Go to Page]
- A.3.1 Outil d’insertion du fil
- A.3.2 Outil d’extraction des fils
- A.3.3 Outil combiné
- A.4 Informations sur les contacts [Go to Page]
- A.4.1 Généralités
- A.4.2 Caractéristiques de conception
- A.4.3 Matières
- A.4.4 Traitements de surface
- A.5 Informations sur les fils [Go to Page]
- A.5.1 Type
- A.5.2 Dimensions
- A.5.3 Traitements de surface
- A.5.4 Isolant
- A.6 Informations sur la connexion
- Annexe B (informative) Exemples d’application [Go to Page]
- B.1 Exemples de bonnes CAD ou de résultats négatifs (voir Figure B.1 à Figure B.7)
- B.2 Exemples de bonnes microsections transversales ou de résultats négatifs
- Bibliographie
- Figures [Go to Page]
- Figure 1 – Exemple de connexions autodénudantes accessibles et non accessibles
- Figure 2 – Connexion autodénudante
- Figure 3 – Fente
- Figure 4 – Paroi
- Figure 5 – Montage d’essai, force d’extraction transversale
- Figure 6 – Montage d’essai, pliage du fil
- Figure 7 – Montage d’essai, vibrations
- Figure 8 – Montage d’essai, résistance de contact
- Figure 9 – Programme d’essais de base (voir 8.2)
- Figure 10 – Programme d’essais complet (voir 8.3)
- Figure A.1 – Exemple d’un contact CAD accessible discret avec un conducteur cylindrique massif
- Figure B.1 – Exemples de connexions CAD correctes et acceptables
- Figure B.2 – Exemples de bonnes CAD ou de résultats négatifs
- Figure B.3 – CAD défectueuse: contacts endommagés
- Figure B.4 – Exigences pour les CAD ouvertes
- Figure B.5 – CAD défectueuse: fil endommagé
- Figure B.6 – CAD: position du fil
- Figure B.7 – CAD: microsection transversale
- Tableaux [Go to Page]
- Tableau 1 – Force d’extraction transversale minimale
- Tableau 2 – Vibrations, sévérités d’essai privilégiées
- Tableau 3 – Résistance de contact des connexions CAD accessibles,valeurs maximales admises
- Tableau 4 – Nombre d’éprouvettes exigé
- Tableau 5 – Programme d’essais de qualification – Groupe d’essais 1
- Tableau 6 – Programme d’essais de qualification – Groupe d’essais 2
- Tableau 7 – Programme d’essais de qualification – Groupe d’essais 3
- Tableau 8 – Programme d’essais de qualification – Groupe d’essais A
- Tableau 9 – Programme d’essais de qualification – Groupe d’essais B
- Tableau 10 – Programme d’essais de qualification – Groupe d’essais C
- Tableau 11 – Programme d’essais de qualification – Groupe d’essais D
- Tableau 12 – Programme d’essais de qualification – Groupe d’essais E [Go to Page]
